Resumenes Vol. 38 No.2 de 2006
 

SISTEMA PARA MEDICIÓN DE REFLECTOMETRÍA DE RADIACIÓN VIS EN INTERFASES DIELÉCTRICAS.

J. A. Cubillos M. , J. G. Moncayo R. , L.C. Jiménez B. , C. Otálora S., C. A. Parra R.

Resumen

Se diseño y construyó un banco dedicado a la reflectometría de radiación VIS en interfases dieléctricas, basado en un porta muestra, 2 polarizadores Glan Taylor, diodos láser y fotodiodos que rotan con motores de paso. Tanto la medición de potencia, frecuencia, polarización de la radiación, como de las rotaciones, se supervisa con RS232, tarjetas NI en entorno LabVIEW. Se construyeron tarjetas de control de los motores con protocolo modbus ASCII para comunicación serial con el PC. El sistema permite extinción de 10 -5 y rotaciones de 0.17 mrad. Se calcula el índice de refracción a partir del patrón de reflexión para un estado de polarización determinado.

Palabras Claves: LabVIEW, protocolo modbus, reflectometría, polarización, índice de refracción.


Abstract

Design and was constructed a bench dedicated to the VIS radiation reflectometry in dielectric interphases, based on a sample carrier, 2 Glan Taylor polarizer, laser diodes and photodiodes that rotate with step motors. The measurement as much of power, frequency, polarization of the radiation, like the rotations, supervises with RS232, NI cards and LabVIEW. They were constructed to motors control cards with modbus ASCII protocol for serial communication with the PC. The system allows extinction of 10 -5 and rotations of 0,17 mrad. The refractive index from the reflection pattern for a certain polarization state calculates.

Keywords: LabVIEW, modbus protocol, reflectometry, polarization, refractive index.

 

Formatos Disponibles: Pdf