Se presenta el diseño y la construcción de un equipo adaptado para la medición de intensidad de luz monocromática reflejada en la superficie de películas delgadas de cobre/níquel, depositadas sobre substratos de Zamac. Las películas fueron obtenidas electrolíticamente con las técnicas de Corriente Directa (DC) y Corriente Pulsante Inversa (PRC). El filtrado de la luz se realizó mediante un filtro optico con un ancho de banda 680-720 nm. El equipo se compone de un circuito de medición de la señal luminiscente por medio de una fotorresistencia que actúa como receptor, 2 amplificadores para la adecuación de las señales, las cuales fueron adquiridas por PC mediante la tarjeta NI PCI 6221 de National Instruments, usando el software de instrumentación virtual LabVIEW®.

Palabras clave: Películas, corriente pulsante inversa, instrumentación virtual.

The design and the construction of an equipment adapted for the monochromatic reflected light intensity measurement on the surface of copper/nickel thin films, deposited on Zamac substrata is presented. The films were electronically obtained through the Direct Current (DC) and the Pulsating Inverse Current (PRC) techniques. The light filtrate was made by means of an optic filter with 680-720 nm bandwidth. The equipment is made up of: one measurement circuit of the luminescent signal by means of a photo-resisting that acted as receptor, 2 amplifiers for the signal adjustment, which was acquired through a PC by NI PCI 6221 card of the National Instruments Company, using the software of virtual instrumentation (LabVIEW®).

Keywords: Films, Pulsating Inverse Current, virtual instrumentation.