| Resumenes
Vol. 37 No.1 de 2005 |
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| PROPIEDADES ESTRUCTURALES,
MORFOLÓGICAS Y SUPERFICIALES DE SISTEMAS ZrO2-SiO2 |
| Gloria Restrepo, Juan M. Marín, Luis
A. Rios y José A. Navío |
La incorporación de un óxido a la matriz
de un segundo produce cambios en las propiedades superficiales
del sistema inicial, así como modificaciones en la
estructura electrónica del material; de hecho, la
recombinación de portadores de cargas en un material
semiconductor se ve modificada por la incorporación
de otro elemento a la red del semiconductor. El óxido
mixto ZrO2-SiO2 fue preparado empleando
el método sol gel de precipitación seguido
de diversos tratamientos térmicos. Los materiales
así obtenidos fueron caracterizados por diversas
técnicas encontrándose que la textura, estructura
y morfología de estos sistemas está fuertemente
condicionada no sólo por el método de preparación
sino por los tratamientos de calcinación.
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The incorporation of an oxide to the matrix of another
one produces changes in the superficial properties of the
initial system, as well as modifications in the electronic
structure of the material. In fact, the recombination of
charge carriers in a semiconductor material is modified
by the incor-poration of another element to the semiconductor
network. The mixed oxide ZrO2-SiO2 was pre-pared using the
sol gel method of precipitation followed by diverse thermal
treatments. So obtai-ned materials were characterized by
diverse techniques and it was found that the texture, structure
and morphology of these systems is strongly conditioned
by the preparation methods and the cal-cination treatments.
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