En el presente trabajo reportamos mediciones del efecto de las fluctuaciones sobre la conducti-vidad eléctrica en películas superconductoras de YBa2Cu3O7-?, sobre nuevos sustratos de YSr2SbO6 en forma de película. Experimentos de difracción de rayos-X y de resistividad eléc-trica mostraron que la perovskita cúbica compleja de YSr2SbO6 es aislante y crece en la orien-tación cristalográfica (100), mientras que la película superconductora crece sobre la película sustrato en la dirección (001). El análisis de las fluctuaciones fue realizado a través de la apli-cación del concepto de derivada logarítmica del exceso de conductividad eléctrica, mediante el método de Kouvel-Fisher, frecuentemente usado en el estudio de fenómenos críticos. Muy cer-ca y por encima de la temperatura crítica Tc, aún en el estado normal, se determinó experimen-talmente la ocurrencia de regímenes de fluctuaciones Gaussianas tres y dos dimensionales, ca-racterizados por los exponentes críticos ?3D?0.5 y ?2D?1.0, respectivamente. En la región de fluctuaciones más cercana a Tc, fue identificado un régimen de fluctuaciones genuinamente crí-ticas con ?CR?0.33. Estos resultados son acordes con los característicos de fluctuaciones en pe-lículas delgadas de YBa2Cu3O7-? crecidas sobre sustratos de SrTiO3.