La fotorreflectancia diferencial FRD, es una modificación de la técnica fotorreflectancia FR y permite obtener información de regiones especificas de una muestra o una heteroestructura. En esta técnica se emplean dos laseres desfasados 180 grados, que permiten que las señales se cancelen en la región superficial de la muestra. De esta forma es posible discriminar la señal debida a la superficie de la señal debida a regiones mas internas. En este trabajo se reportan los estudios de FRD en muestras de CdTe crecidas por MBE y depositadas sobre substratos de GaAs. El espesor de la película de CdTe es de 5500 Å. Los espectro fueron tomados con diferentes fuentes de excitación, como fueron los láseres de HeNe: 6328Å, 5430Å y HeCd 4416 y 3250Å. La diferencia que se manifiesta en los espectros, es debida a la longitud de penetración de los laseres.